CM-4簡易探針臺
CM系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價格實惠；
CS-4小型探針臺
CS系列探針臺最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
CL-6系列中端探針臺
CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CH-8-D 雙面探針臺
CINDBESTCH-8-D雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項升級功能。可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)
CT-6高低溫探針臺
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜
PCB自動測試系統(tǒng)
BG-401A曝光機 技術(shù)協(xié)議 非常感謝您選購我們的BG-401A曝光機，我們將竭誠為您提供服務(wù)! 此協(xié)議為 合同的銷售技術(shù)協(xié)議。 BG-401A曝光機主要用于中小規(guī)模集成電路和半導(dǎo)體元器件制造工藝中的對準(zhǔn) 及曝光。本產(chǎn)品操作方便、穩(wěn)定性高、重復(fù)性好，并具有較高的性能價格比，可廣 泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。
