全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)
適應(yīng)4~12寸晶圓測(cè)可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測(cè)試環(huán)境配置 設(shè)備簡(jiǎn)單易用、性能穩(wěn)定，具備高度、高效率、低振動(dòng)和低噪聲
CP300半自動(dòng)探針臺(tái)
CP300系列|300mm半自動(dòng)探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試， 操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。 與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試。
CP200半自動(dòng)探針臺(tái)
CP200系列|200mm半自動(dòng)探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試 操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。 與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試。
