全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)
適應(yīng)4~12寸晶圓測可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測試環(huán)境配置 設(shè)備簡單易用、性能穩(wěn)定，具備高度、高效率、低振動(dòng)和低噪聲
CP300半自動(dòng)探針臺(tái)
CP300系列|300mm半自動(dòng)探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測試， 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能測試。
CRX-SM低溫超導(dǎo)真空探針臺(tái)
溫度范圍8K-300K； 應(yīng)用領(lǐng)域包括：IV/CV/微波/光電實(shí)驗(yàn)測試/超導(dǎo)垂直磁場測量/低溫測試； 允許非監(jiān)督降溫：不需要用戶一直監(jiān)視就可以降溫冷卻； 研究者可通過它來執(zhí)行霍爾測量和磁輸運(yùn)測量;
CRX-閉循環(huán)低溫探針臺(tái)
溫度范圍4.5K-350K； 應(yīng)用領(lǐng)域包括：IV/CV/微波/光電實(shí)驗(yàn)測試/超導(dǎo)垂直磁場測量/低溫測試； 允許非監(jiān)督降溫：不需要用戶一直監(jiān)視就可以降溫冷卻； CRX低溫探針臺(tái)無需制冷劑，樣品臺(tái)最低溫度可到4.5K；
CM-4簡易探針臺(tái)
CM系列探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠；
CS-4小型探針臺(tái)
CS系列探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
CL-6系列中端探針臺(tái)
CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CH-8-D 雙面探針臺(tái)
CINDBESTCH-8-D雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能�？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
CH-8系列綜合性分析探針臺(tái)測試系統(tǒng)
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CH-12 綜合性分析探針臺(tái)測試系統(tǒng)
