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淺析高溫測試測量探針臺系統
小編今天帶大家了解的是關于高溫測試測量探針臺系統的特點與技術參數
高溫測試測量探針臺系統主要特點有以下幾點：
1、最大可用于12英寸以內樣品測試
2、4/6/8/12英寸均可升高溫探針臺
3、同軸絲杠傳動結構，線性移動
4、可滿足500度高溫測試，溫度穩定性高
5、兼容IV/CV/RF測試
6、結構設計簡單合理，操作方便
7、可根據不同需求定制
高溫測試測量探針臺系統主要技術參數如下：
型號與尺寸：
四個不同的型號分別為：CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/CH-12-HT；
每個型號對應不同的樣品臺尺寸，樣品臺尺寸：4英寸、6英寸、8英寸和12英寸，用于放置不同的樣品。
機械系統：
水平旋轉：設備可以360度旋轉，并且可以微調15度，精度達到0.1度，還帶有一個角度鎖
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探針臺：解鎖半導體測試領域的無限可能
在當今數字化時代，半導體產業的發展日新月異，探針臺作為其中的關鍵設備，正逐漸受到越來越多的關注。本文將詳細介紹探針臺的定義、功能、應用領域以及未來發展趨勢，幫助您解鎖半導體測試領域的無限可能。
一、探針臺的定義與功能
探針臺（ProbeStation）是一種用于測試半導體器件性能的設備，它通過探針與晶圓上的電路進行接觸，實現信號的輸入與輸出，從而對半導體器件進行電氣特性測試。探針臺的主要功能包括：
1.提供穩定的測試環境：探針臺能夠提供恒溫、恒濕、低塵、無振動的測試環境，確保半導體器件在測試過程中的穩定性。
2.接觸測試：探針臺通過探針與晶圓上的電路接觸，實現信號的輸入與輸出，對半導體器件進行電氣特性測試。
3.數據采集與分析：探針臺可以實時采集測試數據，并對數據進行分析處理，幫助工程師快速了解半導體器件的性能。
2024-03-114514
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什么是射頻探針？射頻探針的特點和應用領域
射頻探針是一種用于測量射頻信號的測試工具，通常由針尖和探針本體組成。它能夠與被測物接觸，測量其射頻信號的參數，例如頻率、幅度、相位等。
射頻探針的特點主要包括：
高精度測量：射頻探針具有高精度的測量能力，能夠準確測量射頻信號的參數。
快速響應：射頻探針的響應速度很快，可以在很短的時間內完成測量。
穩定性好：射頻探針的測量穩定性很好，不易受到外界干擾的影響。
應用廣泛：射頻探針可以用于各種不同的領域，例如無線通信、雷達、電子對抗等。
應用領域方面，射頻探針主要用于測試和測量各種電子設備和系統的射頻信號。例如，在無線通信領域，射頻探針可以用于測試手機、基站、無線路由器等設備的射頻性能。在雷達領域，射頻探針可以用于測試雷達天線的發射和接收性能。此外，在電子對抗系統、衛星通信、高速數字信號處理等領域，射頻探針也有廣泛的應用。
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森東寶科技帶你了解高低溫真空探針臺詳細參數
型號為CGO-2和CGO-4。這兩款設備的主要技術參數包括腔體尺寸、樣品臺尺寸、觀察窗口尺寸、真空度、探針臂接口、其他接口（電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口）、制冷方式、控制方式、溫度范圍、溫控分辨率、穩定性等。
腔體和樣品臺：CGO-2和CGO-4分別具有2英寸和4英寸的樣品臺尺寸，并采用彈簧壓片方式固定樣品。
觀察窗口：觀察窗口尺寸分別為2英寸和4英寸，用于觀察樣品。
真空度：這兩款設備的真空度均可達到10-6torr，確保測試環境的高純凈度。
探針臂接口：最多可連接6個探針臂接口，滿足多種測試需求。
其他接口：設備提供了電信接口、真空接口、光纖接口和冷源接口，增強了設備的通用性和靈活性。
制冷方式與溫度范圍：采用液氮或
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CS-4和CS-6探針臺的技術參數比較如下：
CS-4探針臺：
·Chuck尺寸：4英寸
·水平旋轉：可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
·XY移動行程：4英寸*4英寸
·X-Y移動精度：10um
·樣品臺Z軸調節：可升降8mm
·樣品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環
·針座平臺：U型針座平臺，最多可放置6個探針座
·背電極測試：樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
·顯微鏡類型：單筒顯微鏡/體式顯微鏡
·放大倍率：16X-100X
·移動行程：水平方向繞立柱360度旋轉，Z軸50.8mm
·光源：外置LED無極調節亮度環形光源
·CCD：200萬像素/500萬像素/1200萬像素
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